BIST : Built-In Self-Test 또는 Built-In Test(BIT)라고 부르는데 설계한 로직 회로 내부에 원하는 대로 동작이 되는지를 확인 할 수 있도록 함께 설계 하는 기술을 말한다. 말 그대로 '자체 테스트 회로'를 내장 하는 것이다. 이렇게 자체 테스트 회로를 내장 하게 되면 실제 칩으로 나왔을 때 제대로 동작하는지 테스트하기 위한 복잡도가 크게 줄어들고 비싼 외부 장비를 사용하지 않고도 빠른 시간 내에 시험을 완료 할 수 있다는 장점이 있다. 반면에 자체 테스트 항목이 많아 질수록 테스트를 위한 1회성 로직이 많이지는 것이기 때문에 칩이 커지는 단점이 있다. 따라서 이전 포스팅한 [오늘의 반도체 용어] What is Code Coverage 에서와 같이 내부 로직을 통해 간단하면서도 많은 부분을 함께 검증 할 수 있는 방법을 생각하는 것이 또 하나의 연구라고 할 수 있겠다.
추가 설명하면 칩을 양산하게 되면 테스트를 통해 정상적인 칩만을 출하시켜야 하는데 외부 테스트 장비를 이용할 경우 테스트 환경을 구성하는데 많은 돈이 투자되고 테스트를 진행하면서 시간이 소비되므로 양산 제품이 많아 질수록 소비되는 시간이 더 많이지는 것이다. 따라서 내부적인 간단한 테스트를 통해서 빠른 검증이 가능하다면 가장 중요한 '돈'을 아낄 수 있는 것이 가장 큰 장점이라고 생각할 수 있다. 비메모리 반도체의 경우 테스트 조건이나 항목이 많기 때문에 BIST는 많이 사용하지 않는 편이며 status register 등을 이용하여 가능한한 많이 모듈 상태를 확인할 수 있도록 한다. 메모리같은 경우 내부 테스트가 비메모리 보다 비교적 간단하기 때문에 BIST를 사용하고 있다.
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